Μετάφραση και ανάλυση λέξεων από την τεχνητή νοημοσύνη ChatGPT
Σε αυτήν τη σελίδα μπορείτε να λάβετε μια λεπτομερή ανάλυση μιας λέξης ή μιας φράσης, η οποία δημιουργήθηκε χρησιμοποιώντας το ChatGPT, την καλύτερη τεχνολογία τεχνητής νοημοσύνης μέχρι σήμερα:
- πώς χρησιμοποιείται η λέξη
- συχνότητα χρήσης
- χρησιμοποιείται πιο συχνά στον προφορικό ή γραπτό λόγο
- επιλογές μετάφρασης λέξεων
- παραδείγματα χρήσης (πολλές φράσεις με μετάφραση)
- ετυμολογία
EJTAG - translation to Αγγλικά
общая лексика
(Joint Test Automation Group) Объединенная [рабочая] группа по [методам и средствам] автоматизации тестирования, Ассоциация JTAG по стандартизации диагностических методов и встроенных средств тестирования (ИС, схемных плат и машин)
создана в Европе в 1985 г
интерфейс JTAG, система отладки JTAG
предназначен для встраивания в ядро процессора средств отладки и их связи с внешними отладочными средствами. Пятипроводная диагностическая система, являющаяся частью стандарта IEEE 1149.1. Позволяет получить последовательность состояний выводов отлаживаемого устройства. Через имеющийся в системе порт ТАР можно выполнять ограниченное число отладочных команд. Имеется две альтернативные реализации отладочных систем: так называемый улучшенный JTAG (eJTAG), предложенный компанией MIPS Technologies, и интерфейс NEXUS
Смотрите также
Βικιπαίδεια
JTAG (named after the Joint Test Action Group which codified it) is an industry standard for verifying designs and testing printed circuit boards after manufacture.
JTAG implements standards for on-chip instrumentation in electronic design automation (EDA) as a complementary tool to digital simulation. It specifies the use of a dedicated debug port implementing a serial communications interface for low-overhead access without requiring direct external access to the system address and data buses. The interface connects to an on-chip Test Access Port (TAP) that implements a stateful protocol to access a set of test registers that present chip logic levels and device capabilities of various parts.
The Joint Test Action Group formed in 1985 to develop a method of verifying designs and testing printed circuit boards after manufacture. In 1990 the Institute of Electrical and Electronics Engineers codified the results of the effort in IEEE Standard 1149.1-1990, entitled Standard Test Access Port and Boundary-Scan Architecture.
The JTAG standards have been extended by many semiconductor chip manufacturers with specialized variants to provide vendor-specific features.
