прибор для метрологических измерений длин мер в длинах волн света или для сравнения длин мер на основе интерференции света (См. Интерференция света). Длины концевых мер до 100 мм измеряются на Интерферометре Кёстерса. Концевые меры большей длины, а также штриховые меры измеряются на универсальном К. и. Свет от источника 1 в виде параллельного пучка лучей зеркалом 2 направляется на полупрозрачную стеклянную разделяющую пластину 3. Часть света, отражённая пластиной, падает на концевой эталон 4, установленный на подвижной каретке. Передняя поверхность эталона А - свободная, а к задней В притирается плоская стеклянная пластина С. После отражения от плоскостей А и В свет проходит пластину 3 и зеркалом 5 направляется в зрительную трубу Т. Часть света от зеркала 2, прошедшая пластину 3, зеркалом 6 направляется на зеркало 7, жестко связанное с фотоэлектрическим микроскопом 8. Последний может перемещаться вдоль стола 9 с уложенной на нём штриховой мерой 10. Отражённый зеркалом 7 свет возвращается к зеркалу 6 и направляется на пластину. Свет, отражённый последней, зеркалом 5 также направляется в зрительную трубу Т. Положение стола фиксируется интерференционным индикатором 11, представляющим интерферометр Майкельсона, одно из зеркал которого жестко связано со столом.

При сравнении эталонной, концевой и измеряемой штриховой мер положением нулевого штриха штриховой меры фиксируется под микроскопом, а перемещением каретки с концевой мерой добиваются равенства длин путей обоих пучков лучей, образовавшихся при отражении света от поверхности А меры и зеркала 7. Затем перемещением зеркала 7 и микроскопа 8 добиваются равенства длин путей обоих пучков лучей, образовавшихся при отражении света от зеркала 7 и поверхности В меры. Необходимое для этого перемещение зеркала 7 и микроскопа 8, очевидно равно длине концевой меры. Новое положение зеркала относительно штриховой меры фиксируется микроскопом и интерференционным индикатором. Для сравнения длин концевых мер в параллельный пучок лучей, идущий от источника света, помещают трубчатый эталон (эталон Фабри - Перо), а зеркало 7 устанавливают так, чтобы его плоскость делила сравнимую меру на части, кратные длине эталона. Точность измерения длин мер на универсальном К. и. Компаратор интерференционный1∙10^-7

Лит.: Захарьевский А. Н., Интерферометры, М., 1952; Бржезинский М. Л., Интерференционные компараторы для измерения длины штриховых мер, в кн.: Труды институтов Госкомитета, в. 78 (138), М. - Л., 1965; Волкова Е. А. [и др.]. Универсальный интерферометр системы ВНИИМ для измерения концевых мер и геодезических кварцевых жезлов длиной до 1200 мм, в кн.: Труды Всесоюзного научно-исследовательского института метрологии, в. 26 (86), М. - Л., 1955.

А. В. Кондрашков.

Схема интерференционного компаратора.

астрономический прибор для отыскания на фотоснимках звёздного неба переменных звёзд (См. Переменные звёзды), малых планет (См. Малые планеты) и звёзд с большими собственными движениями (см. Собственное движение звезды (См. Собственные движения звёзд)). С помощью Б.-к. сравниваются полученные на одном и том же инструменте в разное время 2 фотоснимка одного и того же участка звёздного неба. Оба фотоснимка рассматриваются в один окуляр, причём, перебрасывая специальную заслонку ("блинкуя"), можно видеть то один из них, то другой. Платформа, на которой укреплены фотоснимки, имеет регулировку, позволяющую взаимно ориентировать их так, что при быстром блинковании звёзды, взаимное положение которых не изменилось, кажутся неподвижными. При этом объекты, сместившиеся за интервал времени между двумя экспозициями, как бы прыгают. Изображения переменных звёзд на фотоснимках имеют разный диаметр, и при блинковании возникает эффект мигания (пульсации).

В. В. Подобед.

измерительный прибор для сравнения измеряемых линейных величин с мерами или шкалами (см. Дифференциальный метод измерений, Сравнения с мерой метод измерений). На К. измеряют разность двух близких по номиналу сравниваемых величин, что позволяет получать высокую точность измерений. С помощью К. размер измеряемого объекта сравнивают с расстоянием между штрихами образцовой шкалы (штриховой К.) или с концевыми мерами (См. Концевые меры) длины (концевой К.). Иногда К. называют приборы другого типа, в которых также используется метод сравнения (например, Компаратор интерференционный).

В качестве измерительных устройств в К. применяют микроскопы с окулярным винтовым, шкаловым или оптическим Микрометрами, фотоэлектрические микроскопы с цифровым отсчётом, Интерферометры и др.

С помощью К. измеряют длины от долей мм до десятков м. К. применяются в метрологии (для сличения эталонов длин от 0,1 до 4 м), в машиностроении (для контроля размеров деталей до 1 м), в геодезии (см. Компаратор геодезический).

в астрономии, измерительный прибор, действие которого основано на принципе сравнения двух астрофотографий, спектрограмм и т.п., одна из которых принимается за эталонную. Имеется несколько типов К., отличающихся их назначением и способом сравнения. Существуют К. для сравнения записанных на ленте Хронографа моментов замыкания контактов микрометра на пассажных инструментах и секундных импульсов часов. При измерениях лент в таких К. эталоном является расстояние между секундными импульсами часов. В спектрокомпараторах сравнивают спектрограммы звезд и измеряется смещение той или иной группы спектральных линий у одной звезды с этой же группой линий у другой звезды (или лабораторного источника света); таким образом устанавливается лучевая скорость определяемой звезды, если лучевая скорость эталонной звезды (звезды сравнения) известна.

К К. относят также некоторые инструменты, с помощью которых путём сравнения двух астрофотографий или спектрограмм, полученных в разное время, выявляют изменения, происшедшие с небесным светилом. Таковы Блинк-компараторы, где сравнение ведется путем попеременного рассматривания двух фотографий (блинкования). В стереокомпараторах изменение положения небесного объекта относительно других обнаруживается при одновременном рассматривании двух астрофотографий по стереоскопической картине смещения.

Е. А. Юров.

Светофильтр, действие которого основано на явлении интерференции света в тонких плёнках.