кристаллографические индексы, целые числа, характеризующие расположение граней и соответствующих им атомных плоскостей в кристалле. М. и. связаны с длиной отрезков, отсекаемых соответствующей плоскостью на трёх осях кристаллографической системы координат. Длины отрезков, отсекаемых любой атомной плоскостью кристалла на осях координат, выраженные в постоянных решётки а, b, с, всегда являются целыми числами p₁, p₂, p₃. Если обратные им величины привести к общему знаменателю, а затем отбросить его, то полученные 3 целых числа h = p₂p₃, k = p₁p₃, l = p₁p₂ и есть М. и. Они записываются в круглых скобках (hkl). Отрицательные М. и. обозначают плоскости, пересекающиеся с отрицательными направлениями осей координат. М. и. совокупности плоскостей, симметрично равных друг другу (см. Симметрия кристалла (См. Симметрия кристаллов)), записывают в фигурных скобках {hkl}.

Помимо кристаллографии М. и. используются также в рентгенографии, электронографии и нейтронографии для обозначения пучков, рассеянных соответствующими атомными плоскостями кристалла.

Лит. см. при ст. Кристаллография.